HR-TEM teenus

 

Tartu Ülikooli Füüsika Instituut pakub võimalust kasutada kõrglahutusega analüütilise läbivalgustava elektronmikroskoobi (HR-TEM) uuringute teenuseid tahkete/kondenseerunud materjalide struktuuri, k.a. kristallstruktuuri määramiseks, viimast elektrondifraktsiooni abil, osakeste/kristalliitide suuruse määramiseks, defektide uurimiseks ja analüüsimiseks, ja elementse (v.a. vesinik ja heelium) koostise määramiseks EDS abil ning mõningates anorgaanilistes ainetes keemilise sideme määramiseks EELS abil, ning elementide olemasolu, jaotuse ja kontsentratsiooni määramiseks/visualiseerimiseks, seda kõike mikro-, nano- ja subnanomeetrilisel tasandil, ruumilise lahutusega kuni 0.08 nm kristalliliste ainete puhul. Uurimiseks tuleb objektidest valmistada sub-mikromeetrilise paksusega õhikud või sadestada nanoosakesed spetsiaalsetele alustele, seejärel viia objekt koos spetsiaalse hoidjaga objektikambrisse, kõrgvaakumi keskkonda; teatud objekte on võimalik uurida kõrgendatud temperatuuridel kuni 1000 °C.

HR-TEM FEI Titan Themis 200

 

Teenused sisaldavad:

  • spetsialisti(de) konsultatsioone: tellijaga arutatakse läbi nende teaduslik-tehnilisd probleemid ja hinnatakse, kas antud metoodikad suudavad pakkuda tellijale huvipakkuvatele probleemidele lahendusi ning kas eelnevalt on tehtud või on vajalik teha teatud eelkatseid teiste uurimisvahenditega, näit. kõrglahutusega SEM-uuringud, röntgendifraktsiooni (XRD) või röntgenfluorestsents (XRF) uuringud jt,
  • katseobjektidest õhikute/sadestiste valmistamist kvalifitseeritud spetsialistide poolt,
  • materjalide mõõtmist läbivalgustava elektronmikroskoobiga kogenud operaatorite poolt,
  • abi mõõtmistulemuste interpreteerimisel, vajadusel ka analüüsimisel,
  • tellitud arendustegevusi, mille käigus töötatakse välja ja/või juurutatakse uusi uurimismeetodeid, mida antud taristu võimaldab rakendada tellija konkreetsete probleemide lahendamiseks,
  • tellitud uurimistöid, kus labori spetsialistid koostöös tellijaga lahendavad tellijale huvipakkuvaid keerukamaid teaduslik-tehnilisi probleeme, mida pole võimalik lahendada mõne lühiajalise mõõtmise/analüüsi käigus – viimast kahte teenust saab/on mõistlik sageli ühitada.

Võimalik on korraldada insener-tehnilistele töötajatele lühiajalisi koolistusi materjalide karakteriseerimise meetodites, sealhulgas elektron-mikroskoopiast, kus muuhulgas tutvustatakse vastavate seadmete olemasolu Eestis ja lähiriikides.

Eesti teadustaristu teekaardi objekt „Nanomaterjalide tehnoloogiate ja uuringute keskus (NAMUR+)” on kaasrahastatud Euroopa Regionaalarengu Fondist (projektid „Nanomaterjalid – rakendused ja uuringud“, 3.2.0304.12-0397, 01.02.2012-31.12.2015 ja „Nanomaterjalide tehnoloogiate ja uuringute keskus”, 2014-2020.4.01.16-0123, 01.01.2017 - 30.06.2022 ).