Vesiniku- ja taastuvenergeetika keskus
Tehnoloogiline oskusteave
Materjalide arendus ja testimine
- Superkondensaatorite ühikrakkude ja süsteemide materjalide arendus ja testimine
- Li-ioon- ja Na-ioonpatareide ning teiste patareide ühikrakkude ja komplekteeritud patareide testimine
- Vesinikku ja metaani absorbeerivate ning keemiliselt vesinikku siduvate materjalide arendamine ja testimine
-
Kütuseelementide materjalide arendamine ja testimine
- 5 kuni 100 cm2 ühikrakkude testimine ja ajalise stabiilsuse analüüs
- komplekteeritud kütuseelementide testimine ja ajalise stabiilsuse analüüs
- Tahkeoksiidsed nii hapnik- kui ka prootonjuht-membraaniga kütuseelemendid (SOFC)
- Prootonjuht-membraaniga kütuseelemendid (PEMFC)
- Anioonvahetus-membraaniga kütuseelemendid (AVMFC)
-
Elektrolüüserite materjalide arendus ja testimine
- 5 kuni 100 cm2 ühikrakkude testimine ja ajalise stabiilsuse analüüs
- komplekteeritud rakkude mõõtmised ja ajalise stabiilsuse analüüs:
- Prootonjuhtivusega elektrolüüser (PEMEL),
- Leeliselise elektrolüüdiga elektrolüüser (AEL),
- Tahkeoksiidne (hapniku ja prootonjuhtivusega ning sega ioonjuhtivusega) elektrolüüser (SOEL)
- Süsinikdioksiidi ja vee koosredutseerimise elektrolüüseri analüüs ja sünteesgaasi/sünteeskütuste koostise määramine.
Materjalide analüüsi meetodid
-
Eripinna ja poorsuse (pooride jaotuse) määramine
- Gaaside (H2, CH4 jpt.) adsorptsioon/absorptsioon
- Temperatuur-programmeeritud desorptsioon
- Termogravimeetriline analüüs
- In situ elektrokeemiline dilatomeetria
- Operando elektrokeemiline kõrgtemperatuurne XRD analüüs
- FIB-TOF-SIMS analüüs
- FIB-SEM-EDX analüüs
- Lähtematerjalide (pastade) reomeetriline analüüs
- Operando XPS analüüüs,
- HR-TEM ja EELS, SAED XPS analüüs,
- Raman ananalüüs,
- IR (FTIR, SNIFTIR, jt) analüüs
- Kütuseelementide ja elektrolüüserite operando gaasikromatograafia-massispektromeetria
- Elektrokeemilise impedantsi spektroskoopia
- konstantse vooluga laadimise/tühjenemise uuringud
- konstantse võimsusega energiatiheduse analüüs
- pöörleva ketaselektroodi meetod
- tsükliline voltamperomeetria
Simultatsioonid ja tulemuste modelleerimine
- Materjalide 3D-analüüs (FIB-TOF-SIMS, FIB-SEM, operando XRD, operando XPS)
- Poorsete materjalide poorsuse ja poorse struktuuri analüüs
- Impedantsspektroskoopia andmete analüüs
- Soojuspaisumise ja dilatomeetria andmete analüüs
- Koondid (koondanalüüsid) materjalide füüsikaliste ja elektrokeemiliste omaduste kohta