{"id":14,"date":"2024-04-04T01:33:46","date_gmt":"2024-04-04T01:33:46","guid":{"rendered":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/tof-fib-sims-teenus\/"},"modified":"2026-01-11T00:43:08","modified_gmt":"2026-01-10T22:43:08","slug":"tof-fib-sims-teenus","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/tof-fib-sims-teenus\/","title":{"rendered":"TOF-FIB-SIMS teenus"},"content":{"rendered":"<p style=\"text-align: justify;\">Tartu \u00dclikooli Keemia Instituut pakub v\u00f5imalust kasutada Physical Electronics poolt toodetud <strong><em>fokusseeritud ioonkiir l\u00f5ikamisv\u00f5imalusega lennuaja sekundaarioon massispektromeetri (FIB-TOF-SIMS) nanoTOF II uuringute teenuseid <\/em><\/strong>tahkete objektide pindade ning pinddefektide elementanal\u00fc\u00fcsiks. \u00dclimalt suur s\u00fcgavustundlikus (paar aatom-\/molekulkihti) v\u00f5imaldab avastada ning tuvastada erinevate materjalide pinna saastumisi, mis on tihti asendamatu t\u00f6\u00f6riist kvaliteedi kontrolli\/vea tuvastamise protsessis. Lisaks v\u00f5imaldab C<sub>60<\/sub> ioonallika kasutamine tuvastada \u00f5hukeste orgaaniliste kihtide\/kilede, sealhulgas k\u00f5ikv\u00f5imalike pol\u00fcmeeride defekte ning ebakorrap\u00e4rasid.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" width=\"960\" height=\"720\" class=\"alignnone wp-image-45\" style=\"width: 643px; height: 482px; margin-left: 110px; margin-right: 110px;\" title=\"tof_fib_sims_kodulehele.png\" src=\"https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/tof_fib_sims_kodulehele.png\" alt=\"TOF-FIB-SIMS\" srcset=\"https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/tof_fib_sims_kodulehele.png 960w, https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/tof_fib_sims_kodulehele-300x225.png 300w, https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/tof_fib_sims_kodulehele-768x576.png 768w\" sizes=\"auto, (max-width: 960px) 100vw, 960px\"><\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">FIB-TOF-SIMS v\u00f5imekus ei piirdu vaid aatomkihi anal\u00fc\u00fcsiga kuna proove on v\u00f5imalik t\u00e4nu erinevatele ioonallikatele (5kV Ar<sup>+<\/sup>; 5kV O<sup>\u2013<\/sup>; 30kV C60<sup>++<\/sup>) materjali pinda maha pihustada (Sputtering) ning koostada uuritavast objektist &lt;nm lahutusega s\u00fcgavusprofiil.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Makroskoopiliste objektide korral on v\u00f5imalik teostada materjali keemilise koostise s\u00fcgavusprofiili fokusseeritud ioonkiir l\u00f5ikamise teel, kus Ga<sup>+<\/sup> ioonkiirega l\u00f5igatakse objekti vaateava ning anal\u00fc\u00fcsitakse kuni 200\u00d7200\u00b5m alaga ristl\u00f5iget. J\u00e4rjestik l\u00f5ikamise ja anal\u00fc\u00fcsimise teel on v\u00f5imalik rekonstrueerida materjali keemiline 3D struktuur.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Eritemperatuuridel m\u00f5\u00f5tmise jaoks on v\u00f5imalik kasutada proovihoidjat, millega on v\u00f5imalik kontrollida uuritava objekti temperatuuri vahemikus -150\u00b0C kuni 200\u00b0C. On v\u00f5imalik ka kasutada k\u00f5rgtemperatuurset proovihoidjat, mille t\u00f6\u00f6vahemik on toatemperatuurist kuni 600\u00b0C.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">T\u00e4nu TOF-SIMS suurele massilahutusele \u00a0on v\u00f5imalik eristada elementide erinevaid isotoope, mis v\u00f5imaldab kasutada erinevate bioloogiliste ja ioonjuht materjalidel isotoop markeerimist n\u00e4iteks deuteeriumi v\u00f5i 18-hapnikuga.<\/p>\n<p><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" class=\"alignnone wp-image-44\" style=\"margin-left: auto; margin-right: auto;\" title=\"tof-sims_v.jpg\" src=\"https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/tof-sims_v-scaled.jpg\" alt=\"tof-sims_v.jpg\" width=\"902\" height=\"426\" srcset=\"https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/tof-sims_v-scaled.jpg 2560w, https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/tof-sims_v-300x142.jpg 300w, https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/tof-sims_v-1024x484.jpg 1024w, https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/tof-sims_v-768x363.jpg 768w, https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/tof-sims_v-1536x726.jpg 1536w, https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/tof-sims_v-2048x968.jpg 2048w, https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/tof-sims_v-1920x908.jpg 1920w\" sizes=\"auto, (max-width: 902px) 100vw, 902px\"><\/p>\n<p><strong>Teenused sisaldavad:<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>spetsialisti(de) konsultatsioone: tellijaga arutatakse l\u00e4bi nende teaduslik-tehnilised probleemid ja hinnatakse, kas antud metoodikad suudavad pakkuda tellijale huvipakkuvatele probleemidele lahendusi,<\/li>\n<\/ul>\n<ul>\n<li>proovide k\u00e4itlemise koolitust,<\/li>\n<\/ul>\n<ul>\n<li>materjalide anal\u00fc\u00fcsimist TOF-SIMS\u2019ga kogenud operaatorite poolt,<\/li>\n<\/ul>\n<ul>\n<li>abi m\u00f5\u00f5tmistulemuste interpreteerimisel, vajadusel ka anal\u00fc\u00fcsimisel,<\/li>\n<\/ul>\n<ul>\n<li>tellitud arendustegevusi, mille k\u00e4igus t\u00f6\u00f6tatakse v\u00e4lja ja\/v\u00f5i juurutatakse uusi uurimismeetodeid, mida antud taristu v\u00f5imaldab rakendada tellija konkreetsete probleemide lahendamiseks,<\/li>\n<\/ul>\n<ul>\n<li>tellitud uurimist\u00f6id, kus labori spetsialistid koost\u00f6\u00f6s tellijaga lahendavad tellijale huvipakkuvaid keerukamaid teaduslik-tehnilisi probleeme, mida pole v\u00f5imalik lahendada m\u00f5ne l\u00fchiajalise m\u00f5\u00f5tmise\/anal\u00fc\u00fcsi k\u00e4igus \u2013 viimast kahte teenust saab\/on m\u00f5istlik sageli \u00fchitada.<\/li>\n<\/ul>\n<p>V\u00f5imalik on korraldada insener-tehnilistele t\u00f6\u00f6tajatele l\u00fchiajalisi koolistusi materjalide karakteriseerimise meetodites.<\/p>\n<ul>\n<li>Kontaktisik: <strong>Enn Lust <\/strong>(e-mail: <a href=\"mailto:enn.lust@ut.ee\">enn.lust@ut.ee<\/a>)<\/li>\n<li>Operaatorid: <strong>Rait Kanarbik <\/strong>ja <strong>Priit M\u00f6ller<\/strong><\/li>\n<\/ul>\n<p style=\"text-align: justify;\"><em>Eesti teadustaristu teekaardi objekt \u201eNanomaterjalide tehnoloogiate ja uuringute keskus (NAMUR+)\u201d on kaasrahastatud Euroopa Regionaalarengu Fondist (projektid \u201eNanomaterjalid \u2013 rakendused ja uuringud\u201c, 3.2.0304.12-0397, 01.02.2012-31.12.2015 ja \u201eNanomaterjalide tehnoloogiate ja uuringute keskus\u201d, 2014-2020.4.01.16-0123, 01.01.2017 \u2013 30.06.2022 ) ning Eesti Teadusagentuuri poolt (projektid TARISTU24-TK26, IUT20-54 ja TT13).<br>\n<\/em><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Tartu \u00dclikooli Keemia Instituut pakub v\u00f5imalust kasutada Physical Electronics poolt toodetud fokusseeritud ioonkiir l\u00f5ikamisv\u00f5imalusega lennuaja sekundaarioon massispektromeetri (FIB-TOF-SIMS) nanoTOF II uuringute teenuseid tahkete objektide pindade ning pinddefektide elementanal\u00fc\u00fcsiks. \u00dclimalt suur s\u00fcgavustundlikus (paar aatom-\/molekulkihti) v\u00f5imaldab avastada ning tuvastada erinevate materjalide pinna &#8230;<\/p>\n","protected":false},"author":157,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"_acf_changed":false,"inline_featured_image":false,"footnotes":""},"class_list":["post-14","page","type-page","status-publish","hentry"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/14","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/users\/157"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=14"}],"version-history":[{"count":4,"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/14\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":459,"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/14\/revisions\/459"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=14"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}