{"id":10,"date":"2024-04-04T01:33:46","date_gmt":"2024-04-04T01:33:46","guid":{"rendered":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/tem_teenus\/"},"modified":"2026-01-11T00:40:03","modified_gmt":"2026-01-10T22:40:03","slug":"tem_teenus","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/tem_teenus\/","title":{"rendered":"HR-TEM teenus"},"content":{"rendered":"<p style=\"text-align: justify;\">Tartu \u00dclikooli F\u00fc\u00fcsika Instituut pakub v\u00f5imalust kasutada <strong><em>k\u00f5rglahutusega <\/em><\/strong><strong><em>anal\u00fc\u00fctilise l\u00e4bivalgustava elektronmikroskoobi (HR-TEM) uuringute teenuseid <\/em><\/strong>tahkete\/kondenseerunud materjalide struktuuri, k.a. kristallstruktuuri m\u00e4\u00e4ramiseks, viimast elektrondifraktsiooni abil, osakeste\/kristalliitide suuruse m\u00e4\u00e4ramiseks, defektide uurimiseks ja anal\u00fc\u00fcsimiseks, ja elementse (v.a. vesinik ja heelium) koostise m\u00e4\u00e4ramiseks EDS abil ning m\u00f5ningates anorgaanilistes ainetes keemilise sideme m\u00e4\u00e4ramiseks EELS abil, ning elementide olemasolu, jaotuse ja kontsentratsiooni m\u00e4\u00e4ramiseks\/visualiseerimiseks, seda k\u00f5ike mikro-, nano- ja subnanomeetrilisel tasandil, ruumilise lahutusega kuni 0.08 nm kristalliliste ainete puhul. Uurimiseks tuleb objektidest valmistada sub-mikromeetrilise paksusega \u00f5hikud v\u00f5i sadestada nanoosakesed spetsiaalsetele alustele, seej\u00e4rel viia objekt koos spetsiaalse hoidjaga objektikambrisse, k\u00f5rgvaakumi keskkonda; teatud objekte on v\u00f5imalik uurida k\u00f5rgendatud temperatuuridel kuni 1000 \u00b0C.<\/p>\n<p align=\"center\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" class=\"alignnone wp-image-49\" title=\"haadf_haadf.png\" src=\"https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/haadf_haadf.png\" alt=\"haadf_haadf.png\" width=\"325\" height=\"325\" srcset=\"https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/haadf_haadf.png 512w, https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/haadf_haadf-300x300.png 300w, https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/haadf_haadf-150x150.png 150w\" sizes=\"auto, (max-width: 325px) 100vw, 325px\">\u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0\u00a0<img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" class=\"alignnone wp-image-50\" title=\"haadf_zr.png\" src=\"https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/haadf_zr.png\" alt=\"haadf_zr.png\" width=\"320\" height=\"320\" srcset=\"https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/haadf_zr.png 512w, https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/haadf_zr-300x300.png 300w, https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/haadf_zr-150x150.png 150w\" sizes=\"auto, (max-width: 320px) 100vw, 320px\">\u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0\u00a0<img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" class=\"alignnone wp-image-51\" title=\"haadf_co.png\" src=\"https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/haadf_co.png\" alt=\"haadf_co.png\" width=\"321\" height=\"321\" srcset=\"https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/haadf_co.png 512w, https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/haadf_co-300x300.png 300w, https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/haadf_co-150x150.png 150w\" sizes=\"auto, (max-width: 321px) 100vw, 321px\"><\/p>\n<p><em>High-angle annular dark field STEM image of cross-section of an ALD grown ZrO<sub>2<\/sub>\/Co<sub>3<\/sub>O<sub>4<\/sub> nanolaminate on Si substrate (left) and Zr (middle) and Co (right) maps of the same cross-section.<\/em><\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" width=\"460\" height=\"681\" class=\"alignnone wp-image-38\" style=\"float: right; width: 295px; height: 437px;\" title=\"HR-TEM FEI Titan Themis 200\" src=\"https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/themis.png\" alt=\"HR-TEM FEI Titan Themis 200\" srcset=\"https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/themis.png 460w, https:\/\/sisu.ut.ee\/wp-content\/uploads\/sites\/293\/themis-203x300.png 203w\" sizes=\"auto, (max-width: 460px) 100vw, 460px\"><\/p>\n<p style=\"text-align: left;\"><strong>Teenused sisaldavad:<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li style=\"text-align: justify;\">spetsialisti(de) konsultatsioone: tellijaga arutatakse l\u00e4bi nende teaduslik-tehnilisd probleemid ja hinnatakse, kas antud metoodikad suudavad pakkuda tellijale huvipakkuvatele probleemidele lahendusi ning kas eelnevalt on tehtud v\u00f5i on vajalik teha teatud eelkatseid teiste uurimisvahenditega, n\u00e4it. k\u00f5rglahutusega <a style=\"background-color: #ffffff;\" href=\"https:\/\/et.wikipedia.org\/wiki\/Skaneeriv_elektronmikroskoop\" target=\"_blank\" rel=\"noopener\">SEM<\/a>-uuringud, r\u00f6ntgendifraktsiooni (<a style=\"background-color: #ffffff;\" href=\"https:\/\/et.wikipedia.org\/wiki\/XRD\" target=\"_blank\" rel=\"noopener\">XRD<\/a>) v\u00f5i r\u00f6ntgenfluorestsents (XRF) uuringud jt,<\/li>\n<\/ul>\n<ul style=\"text-align: justify;\">\n<li>katseobjektidest \u00f5hikute\/sadestiste valmistamist kvalifitseeritud spetsialistide poolt,<\/li>\n<\/ul>\n<ul style=\"text-align: justify;\">\n<li>materjalide m\u00f5\u00f5tmist l\u00e4bivalgustava elektronmikroskoobiga kogenud operaatorite poolt,<\/li>\n<\/ul>\n<ul style=\"text-align: justify;\">\n<li>abi m\u00f5\u00f5tmistulemuste interpreteerimisel, vajadusel ka anal\u00fc\u00fcsimisel,<\/li>\n<\/ul>\n<ul style=\"text-align: justify;\">\n<li>tellitud arendustegevusi, mille k\u00e4igus t\u00f6\u00f6tatakse v\u00e4lja ja\/v\u00f5i juurutatakse uusi uurimismeetodeid, mida antud taristu v\u00f5imaldab rakendada tellija konkreetsete probleemide lahendamiseks,<\/li>\n<\/ul>\n<ul>\n<li style=\"text-align: justify;\">tellitud uurimist\u00f6id, kus labori spetsialistid koost\u00f6\u00f6s tellijaga lahendavad tellijale huvipakkuvaid keerukamaid teaduslik-tehnilisi probleeme, mida pole v\u00f5imalik lahendada m\u00f5ne l\u00fchiajalise m\u00f5\u00f5tmise\/anal\u00fc\u00fcsi k\u00e4igus \u2013 viimast kahte teenust saab\/on m\u00f5istlik sageli \u00fchitada.<\/li>\n<\/ul>\n<p style=\"text-align: justify;\">V\u00f5imalik on korraldada insener-tehnilistele t\u00f6\u00f6tajatele l\u00fchiajalisi koolistusi materjalide karakteriseerimise meetodites, sealhulgas elektron-mikroskoopiast, kus muuhulgas tutvustatakse vastavate seadmete olemasolu Eestis ja l\u00e4hiriikides.<\/p>\n<ul>\n<li>Kontaktisik: <strong>Kaupo Kukli<\/strong> (e-mail: kaupo.kukli@ut.ee)<\/li>\n<li>Operaator: <strong>Jekaterina Kozlova<\/strong> (e-mail: jekaterina.kozlova@ut.ee)<\/li>\n<\/ul>\n<p style=\"text-align: justify;\"><em>Eesti teadustaristu teekaardi objekt \u201eNanomaterjalide tehnoloogiate ja uuringute keskus (NAMUR+)\u201d on kaasrahastatud Euroopa Regionaalarengu Fondist (projektid \u201eNanomaterjalid \u2013 rakendused ja uuringud\u201c, 3.2.0304.12-0397, 01.02.2012-31.12.2015 ja \u201eNanomaterjalide tehnoloogiate ja uuringute keskus\u201d, 2014-2020.4.01.16-0123, 01.01.2017 \u2013 30.06.2022 ) ning Eesti Teadusagentuuri poolt (projektid TARISTU24-TK26, IUT20-54 ja TT13).<span style=\"font-family: Calibri, sans-serif;\"><span style=\"font-size: medium;\"><br><\/span><\/span><\/em><\/p>\n\n\n<p><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Tartu \u00dclikooli F\u00fc\u00fcsika Instituut pakub v\u00f5imalust kasutada k\u00f5rglahutusega anal\u00fc\u00fctilise l\u00e4bivalgustava elektronmikroskoobi (HR-TEM) uuringute teenuseid tahkete\/kondenseerunud materjalide struktuuri, k.a. kristallstruktuuri m\u00e4\u00e4ramiseks, viimast elektrondifraktsiooni abil, osakeste\/kristalliitide suuruse m\u00e4\u00e4ramiseks, defektide uurimiseks ja anal\u00fc\u00fcsimiseks, ja elementse (v.a. vesinik ja heelium) koostise m\u00e4\u00e4ramiseks EDS abil &#8230;<\/p>\n","protected":false},"author":157,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"_acf_changed":false,"inline_featured_image":false,"footnotes":""},"class_list":["post-10","page","type-page","status-publish","hentry"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/10","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/users\/157"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=10"}],"version-history":[{"count":5,"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/10\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":454,"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/10\/revisions\/454"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/sisu.ut.ee\/namurplus\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=10"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}